blank Aide rapide
blank Actualité maintenance

Dates prévues pour la maintenance

Interruptions régulières:
entre 5 h 00 et 5 h 15 HEC, du lundi au dimanche.

Autres interruptions
Accessibilité

2022.02.11

en savoir plus...
blank Flash info

Flash Info

Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

2024-07-24

en savoir plus...
blank Liens utiles

Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP1489747

EP1489747 - CIRCUIT INTEGRE SEMI-CONDUCTEUR [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande est réputée retirée
Statut actualisé le  14.07.2006
Base de données mise à jour au 17.09.2024
Dernier événement   Tooltip14.07.2006Demande réputée retiréepublié le 16.08.2006  [2006/33]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Thine Electronics, Inc.
3-3-6, Nihombashi-Honcho, Chuo-ku
Tokyo 103-0023 / JP
[N/P]
Précédent [2004/52]Pour tous les Etats désignés
Thine Electronics, Inc.
3-3-6, Nihombashi-Honcho, Chuo-ku
Tokyo 103-0023 / JP
Inventeur(s)01 / TSUJITA, Tatsuo, c/o THINE ELECTRONICS INC.
3-3-6, Nihombashi-Honcho, Chuo-ku
Tokyo 103-0023 / JP
 [2004/52]
Mandataire(s)Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch
Patentanwälte
Destouchesstrasse 68
80796 München / DE
[N/P]
Précédent [2004/52]Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch
Winzererstrasse 106
80797 München / DE
Numéro de la demande, date de dépôt03710410.618.03.2003
[2004/52]
WO2003JP03240
Numéro de priorité, dateJP2002007996022.03.2002         Format original publié: JP 2002079960
[2004/52]
Langue de dépôtJA
Langue de la procédureEN
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche
N°:WO03081781
Date:02.10.2003
Langue:EN
[2003/40]
Type: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP1489747
Date:22.12.2004
Langue:EN
La demande publiée par l'OMPI le 02.10.2003, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen.
[2004/52]
Rapport(s) de rechercheRapport de recherche internationale - publié le:JP02.10.2003
Rapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:EP08.06.2005
ClassificationIPC:H03M1/06, H03M1/12, H04N5/14
[2004/52]
CPC:
H04N5/14 (EP,US); H03M1/066 (EP,US); H04N5/12 (EP,US);
H03M1/1215 (EP,US); H03M1/36 (EP,US)
Etats contractants désignésAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HU,   IE,   IT,   LI,   LU,   MC,   NL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   TR [2004/52]
Etats autorisant lextensionALPas encore payé
LTPas encore payé
LVPas encore payé
MKPas encore payé
TitreAllemand:INTEGRIERTE HALBLEITERSCHALTUNG[2004/52]
Anglais:SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT[2004/52]
Français:CIRCUIT INTEGRE SEMI-CONDUCTEUR[2004/52]
Entrée dans la phase régionale21.09.2004Traduction produite 
21.09.2004Taxe nationale de base payée 
21.09.2004Taxe de recherche payée 
21.09.2004Taxe(s) de désignation payée(s) 
21.09.2004Taxe d'examen payée 
Procédure dexamen21.09.2004Requête en examen déposée  [2004/52]
20.07.2005Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription)
13.10.2005Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
24.02.2006La demande est réputée retirée, date d'effet juridique  [2006/33]
03.04.2006Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}  [2006/33]
Taxes payéesTaxe annuelle
24.03.2005Taxe annuelle Année du brevet 03
Surtaxe
Surtaxe concernant la taxe annuelle
31.03.200604   M06   Pas encore payé
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Citations:Recherche[DX]JPH0346883  ;
 [Y]JPS63121385  ;
 [A]JPH05110992  ;
 [A]EP0457329  (NIPPON TELEGRAPH & TELEPHONE [JP], et al) [A] 1-15* figures 3,4 *;
 [X]WO9720304  (MICRON DISPLAY TECH INC [US]) [X] 9 * figure 7 *;
 [Y]US5764299  (JENNES JOS [BE], et al) [Y] 5,6,12,13 * column 7, line 24 - line 37 *;
 [X]US5995031  (OKUDA TAKASHI [JP], et al) [X] 9 * column 3, line 48 - line 53 *;
 [X]EP1043839  (TEXAS INSTRUMENTS INC [US]) [X] 1,4,9 * figure 5 *;
 [Y]EP1058234  (MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD [JP]) [Y] 5,6,12,13 * paragraph [0021] *;
 [X]US2001052864  (SHIMIZU ATSUSHI [JP], et al) [X] 1,4 * paragraph [0035] *;
 [DX]  - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19910514), vol. 015, no. 187, Database accession no. (E - 1067), & JP03046883 A 19910228 (SHIMADZU CORP) [DX] 1-4 * abstract *
 [Y]  - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19881004), vol. 012, no. 369, Database accession no. (E - 665), & JP63121385 A 19880525 (SANYO ELECTRIC CO LTD) [Y] 5,6,12,13 * abstract *
 [X]  - HUAWEN JIN ET AL, "Time-interleaved A/D converter with channel randomization", CIRCUITS AND SYSTEMS, 1997. ISCAS '97., PROCEEDINGS OF 1997 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON HONG KONG 9-12 JUNE 1997, NEW YORK, NY, USA,IEEE, US, (19970609), vol. 1, ISBN 0-7803-3583-X, pages 425 - 428, XP010236066 [X] 1,4 * figure 2 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/ISCAS.1997.608758
 [X]  - PETRAGLIA A ET AL, "Effects of quantization noise in parallel arrays of analog-to-digital converters", CIRCUITS AND SYSTEMS, 1994. ISCAS '94., 1994 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON LONDON, UK 30 MAY-2 JUNE 1994, NEW YORK, NY, USA,IEEE, US, (19940530), vol. 5, ISBN 0-7803-1915-X, pages 337 - 340, XP010143334 [X] 4 * page 337, column 2, paragraph 4 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/ISCAS.1994.409375
 [A]  - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19930826), vol. 017, no. 470, Database accession no. (E - 1422), & JP05110992 A 19930430 (OLYMPUS OPTICAL CO LTD) [A] 1-15 * abstract *
Recherche internationale[X]JPH0346883  (SHIMADZU CORP);
 [Y]JPH1131969  (MITSUBISHI ELECTRIC CORP)
L'OEB décline toute responsabilité quant à l’exactitude des données émanant d'administrations tierces. Il ne garantit notamment pas l'exhaustivité, l'actualité ou la pertinence à des fins spécifiques de ces données.