EP1918751 - Système de microscope, procédé d'observation et programme d'observation [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets] | Statut | Aucune opposition formée dans le délai Statut actualisé le 26.11.2010 Base de données mise à jour au 17.09.2024 | Dernier événement Tooltip | 26.11.2010 | Aucune opposition formée dans le délai | publié le 29.12.2010 [2010/52] | Demandeur(s) | Pour tous les Etats désignés Olympus Corporation 43-2, Hatagaya 2-chome Shibuya-ku Tokyo 151-0072 / JP | [2008/19] | Inventeur(s) | 01 /
Yamada, Tatsuki 1692-11, Yamadamachi Hachioji-shi Tokyo 193-0933 / JP | [2008/19] | Mandataire(s) | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patentanwälte PartG mbB Schweigerstrasse 2 81541 München / DE | [N/P] |
Précédent [2009/51] | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patent- und Rechtsanwälte Schweigerstrasse 2 81541 München / DE | ||
Précédent [2008/19] | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patent- und Rechtsanwälte Schweigerstrasse 2 D-81541 München / DE | Numéro de la demande, date de dépôt | 06022728.7 | 31.10.2006 | [2008/19] | Langue de dépôt | EN | Langue de la procédure | EN | Publication | Type: | A1 Demande avec rapport de recherche | N°: | EP1918751 | Date: | 07.05.2008 | Langue: | EN | [2008/19] | Type: | B1 Fascicule de brevet | N°: | EP1918751 | Date: | 20.01.2010 | Langue: | EN | [2010/03] | Rapport(s) de recherche | Rapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le: | EP | 03.04.2007 | Classification | IPC: | G02B21/00, G02B21/36 | [2008/19] | CPC: |
G02B21/367 (EP);
G02B21/002 (EP)
| Etats contractants désignés | DE [2009/03] |
Précédent [2008/19] | AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR | Titre | Allemand: | Mikroskopsystem, Beobachtungsverfahren und Beobachtungsprogramm | [2008/19] | Anglais: | Microscope system, observation method and observation program | [2008/19] | Français: | Système de microscope, procédé d'observation et programme d'observation | [2008/19] | Procédure d'examen | 18.07.2007 | Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription) | 18.07.2007 | Requête en examen déposée [2008/19] | 22.11.2007 | Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06) | 23.05.2008 | Réponse à une notification de la division dexamen | 08.11.2008 | Perte de droit, date d'effet juridique: Etat(s) désigné(s) | 19.12.2008 | Envoi de la notification relative à une perte de droit : Etat(s) désigné(s) AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR | 19.02.2009 | Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04) | 28.04.2009 | Réponse à une notification de la division dexamen | 28.08.2009 | Notification relative à l'intention de délivrer le brevet | 10.12.2009 | Taxe de délivrance payée | 10.12.2009 | Taxe publication/d‘impression payée | Opposition(s) | 21.10.2010 | Aucune opposition formée dans le délai imparti [2010/52] | Taxes payées | Taxe annuelle | 16.10.2008 | Taxe annuelle Année du brevet 03 | 19.10.2009 | Taxe annuelle Année du brevet 04 |
Dérogation à la compétence Tooltip exclusive de la juridiction unifiée du brevet | Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation | ||
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni. | Citations: | Recherche | [X]WO9839728 (BACUS RES LAB INC [US]) [X] 1,2,5,6,3,4 * figures 1-3,9a,9b,10 * * page 7, line 2 - page 12, line 11 * * page 19, line 34 - page 23, line 32 * * page 30, line 1 - page 32, line 37 * * page 40, line 1 - page 47, line 5 *; | [XY]EP0994433 (FAIRFIELD IMAGING LTD [GB]) [X] 1,2,5,6 * abstract * * paragraph [0018] - paragraph [0036] * * figure - * [Y] 3,4; | [Y]WO0127678 (CELLAVISION AB [SE], et al) [Y] 1-3,5,6 * abstract * * page 2, line 2 - page 4, line 28 * * page 6, line 7 - page 8, line 25 *; | [Y]US2005190437 (NAKAGAWA SHUJI [JP]) [Y] 1-3,5,6 * abstract * * paragraph [0027] - paragraph [0049] *; | [Y]EP1617377 (ZEISS CARL JENA GMBH [DE]) [Y] 3,4 * abstract * * paragraph [0001] - paragraph [0005] *; | [X]US2006204072 (WETZEL ARTHUR W [US], et al) [X] 1 * figure 1 ** paragraph [0035] - paragraph [0046] * |