EP1703547 - Procédé et dispositif pour le contrôle de la contamination des plaquettes de substrat [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets] | Statut | Aucune opposition formée dans le délai Statut actualisé le 20.07.2012 Base de données mise à jour au 14.09.2024 | Dernier événement Tooltip | 18.07.2014 | Extinction du brevet dans un Etat contractant Nouvel/nouveaux État(s): HU | publié le 20.08.2014 [2014/34] | Demandeur(s) | Pour tous les Etats désignés Adixen Vacuum Products 98 Avenue de Brogny 74009 Annecy / FR | [2011/41] |
Précédent [2007/15] | Pour tous les Etats désignés Alcatel Lucent 54 rue La Boétie 75008 Paris / FR | ||
Précédent [2006/38] | Pour tous les Etats désignés ALCATEL 54, rue La Boétie 75008 Paris / FR | Inventeur(s) | 01 /
Favre, Arnaud / 17bis, avenue de Novel 74000, ANNECY / FR | 02 /
Thollot, Rémi / 196, rue du Mont Blanc 74350, CRUSEILLES / FR | 03 /
Metais, Xavier 3, rue Fançois Vernex 74960 Meythet / FR | 04 /
Desbiolles, Jean-Pierre / Les Follats 74350, CRUSEILLES / FR | [2011/37] |
Précédent [2006/38] | 01 /
Favre, Arnaud 17bis, avenue de Novel 74000, ANNECY / FR | ||
02 /
Thollot, Rémi 196, rue du Mont Blanc 74350, CRUSEILLES / FR | |||
03 /
Metais, Xavier 3, rue Fançois Vernex 74960 Meythet / FR | |||
04 /
Desbiolles, Jean-Pierre Les Follats 74350, CRUSEILLES / FR | Mandataire(s) | Croonenbroek, Thomas Jakob Innovincia 11, avenue des Tilleuls 74200 Thonon-les-Bains / FR | [N/P] |
Précédent [2011/37] | Croonenbroek, Thomas Jakob Cabinet Innovincia 11, avenue des Tilleuls 74200 Thonon-les-Bains / FR | ||
Précédent [2011/21] | Croonenbroek, Thomas Jakob Cabinet Innovincia 11, avenue des Tilleuls 74200 Thonon-les-Bains / FR | ||
Précédent [2008/46] | Chaffraix, Sylvain Alcatel Lucent Intellectual Property & Standards 54 rue La Boétie 75008 Paris / FR | ||
Précédent [2006/38] | Chaffraix, Sylvain COMPAGNIE FINANCIERE ALCATEL Département Propriété Industrielle 54, rue La Boétie 75008 Paris / FR | Numéro de la demande, date de dépôt | 06300207.5 | 07.03.2006 | [2006/38] | Numéro de priorité, date | FR20050050703 | 18.03.2005 Format original publié: FR 0550703 | [2006/38] | Langue de dépôt | FR | Langue de la procédure | FR | Publication | Type: | A2 Demande sans rapport de recherche | N°: | EP1703547 | Date: | 20.09.2006 | Langue: | FR | [2006/38] | Type: | A3 Rapport de recherche | N°: | EP1703547 | Date: | 20.08.2008 | [2008/34] | Type: | B1 Fascicule de brevet | N°: | EP1703547 | Date: | 14.09.2011 | Langue: | FR | [2011/37] | Type: | B8 Page de titre du fascicule corrigée | N°: | EP1703547 | Date: | 14.03.2012 | [2012/11] | Rapport(s) de recherche | Rapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le: | EP | 17.07.2008 | Classification | IPC: | H01L21/00 | [2006/38] | CPC: |
H01L21/67253 (EP,US);
F24F12/003 (KR);
F24F13/28 (KR);
F24F13/30 (KR);
F24F7/08 (KR);
H01L21/67389 (EP,US)
| Etats contractants désignés | AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR [2006/38] | Titre | Allemand: | Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle der Verunreinigung von Wafersubstraten | [2006/38] | Anglais: | Method and device for controlling the contamination of wafer substrates | [2006/38] | Français: | Procédé et dispositif pour le contrôle de la contamination des plaquettes de substrat | [2006/38] | Procédure d'examen | 10.10.2008 | Requête en examen déposée [2009/18] | 29.04.2009 | Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06) | 09.11.2009 | Réponse à une notification de la division dexamen | 16.03.2011 | Notification relative à l'intention de délivrer le brevet | 12.07.2011 | Taxe de délivrance payée | 12.07.2011 | Taxe publication/d‘impression payée | Demande(s) divisionnaire(s) | La date de la première notification de la division d'examen relative à la demande la plus ancienne pour laquelle une notification a été émise est 29.04.2009 | Opposition(s) | 15.06.2012 | Aucune opposition formée dans le délai imparti [2012/34] | Taxes payées | Taxe annuelle | 13.03.2008 | Taxe annuelle Année du brevet 03 | 13.03.2009 | Taxe annuelle Année du brevet 04 | 26.03.2010 | Taxe annuelle Année du brevet 05 | 28.03.2011 | Taxe annuelle Année du brevet 06 |
Dérogation à la compétence Tooltip exclusive de la juridiction unifiée du brevet | Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation | ||
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni. | Extinctions durant la phase d’opposition Tooltip | HU | 07.03.2006 | AT | 14.09.2011 | CY | 14.09.2011 | CZ | 14.09.2011 | DK | 14.09.2011 | EE | 14.09.2011 | FI | 14.09.2011 | LT | 14.09.2011 | LV | 14.09.2011 | NL | 14.09.2011 | PL | 14.09.2011 | RO | 14.09.2011 | SE | 14.09.2011 | SI | 14.09.2011 | SK | 14.09.2011 | TR | 14.09.2011 | BG | 14.12.2011 | GR | 15.12.2011 | ES | 25.12.2011 | IS | 14.01.2012 | PT | 16.01.2012 | LU | 07.03.2012 | MC | 31.03.2012 | [2014/34] |
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GR | 15.12.2011 | ||
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Précédent [2012/10] | FI | 14.09.2011 | |
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SE | 14.09.2011 | ||
GR | 15.12.2011 | ||
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LT | 14.09.2011 | ||
Précédent [2012/08] | LT | 14.09.2011 | Citations: | Recherche | [A]US5233191 (NOGUCHI MINORI [JP], et al) [A] 1-28 * abstract *; | [A]US6287023 (YAEGASHI HIDETAMI [JP], et al) [A] 1,23 * abstract *; | [DA]DE10133520 (SIEMENS AG [DE], et al) [DA] 1-28* abstract *; | [DA]US2004023419 (KISHKOVICH OLEG P [US], et al) [DA] 1-28 * abstract * | par le demandeur | DE10133520 | US2004023419 |