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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP3189494

EP3189494 - AMÉLIORATION DE CARTE DE PROFONDEUR [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande est réputée retirée
Statut actualisé le  07.09.2018
Base de données mise à jour au 14.09.2024
PrécédentL'examen est en cours
Statut actualisé le  28.12.2017
PrécédentLa requête en examen a été présentée
Statut actualisé le  15.06.2017
PrécédentLa publication internationale a été faite
Statut actualisé le  11.02.2017
Dernier événement   Tooltip07.09.2018Demande réputée retiréepublié le 10.10.2018  [2018/41]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Microsoft Technology Licensing, LLC
One Microsoft Way
Redmond, WA 98052-6399 / US
[2017/28]
Inventeur(s)01 / KANG, Sing Bing
Microsoft Technology Licensing LLC
One Microsoft Way
Redmond, Washington 98052-6399 / US
02 / KIRK, Adam
Microsoft Technology Licensing LLC
One Microsoft Way
Redmond, Washington 98052-6399 / US
03 / KUSHAL, Avanish
Microsoft Technology Licensing LLC
One Microsoft Way
Redmond, Washington 98052-6399 / US
 [2017/28]
Mandataire(s)CMS Cameron McKenna Nabarro Olswang LLP
Cannon Place
78 Cannon Street
London EC4N 6AF / GB
[N/P]
Précédent [2017/28]Holtby, Christopher Lawrence, et al
Olswang Germany LLP
Rosental 4
80331 München / DE
Numéro de la demande, date de dépôt15770683.903.09.2015
[2017/28]
WO2015US48221
Numéro de priorité, dateUS20141447915005.09.2014         Format original publié: US201414479150
[2017/28]
Langue de dépôtEN
Langue de la procédureEN
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche
N°:WO2016036898
Date:10.03.2016
Langue:EN
[2016/10]
Type: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP3189494
Date:12.07.2017
Langue:EN
La demande publiée par l'OMPI le 10.03.2016, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen.
[2017/28]
Rapport(s) de rechercheRapport de recherche internationale - publié le:EP10.03.2016
ClassificationIPC:G06T3/40
[2017/28]
CPC:
G06T3/4069 (EP,CN,KR,US); H04N13/271 (KR,US); G06T7/571 (KR);
G06T7/579 (EP,US); H04N13/221 (EP,CN,KR,US); H04N13/257 (EP,KR,US);
H04N13/296 (EP,KR,US); G06T2207/10012 (CN,KR,US); G06T2207/10028 (CN,KR,US) (-)
Etats contractants désignésAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2017/28]
TitreAllemand:TIEFENKARTENERWEITERUNG[2017/28]
Anglais:DEPTH MAP ENHANCEMENT[2017/28]
Français:AMÉLIORATION DE CARTE DE PROFONDEUR[2017/28]
Entrée dans la phase régionale10.02.2017Taxe nationale de base payée 
10.02.2017Taxe(s) de désignation payée(s) 
10.02.2017Taxe d'examen payée 
Procédure dexamen21.03.2016Requête en examen préliminaire déposée
Administration chargée de l'examen préliminaire international: EP
10.02.2017Requête en examen déposée  [2017/28]
10.02.2017Date à laquelle la division d’examen est devenue compétente
12.10.2017Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription)
20.12.2017Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
01.05.2018La demande est réputée retirée, date d'effet juridique  [2018/41]
04.06.2018Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}  [2018/41]
Taxes payéesTaxe annuelle
12.09.2017Taxe annuelle Année du brevet 03
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Cité dansRecherche internationale[X]  - J. KIM ET AL, "A High Quality Depth Map Upsampling Method Robust to Misalignment of Depth and Color Boundaries", JOURNAL OF SIGNAL PROCESSING SYSTEMS, (201404), vol. 75, no. 1, pages 23 - 37, XP002751092 [X] 1-15 * page 29, column l, paragraph 1 - page 30, column r, paragraph 1; figure 7 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1007/s11265-013-0783-x
 [A]  - RAJAGOPALAN A N ET AL, Resolution Enhancement of PMD Range Maps, PATTERN RECOGNITION; LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE, SPRINGER BERLIN HEIDELBERG, BERLIN, HEIDELBERG, PAGE(S) 304 - 313, (20080610), XP019090376 [A] 1-15 * page 305, paragraph 2 - page 307, paragraph 3 *
 [A]  - AL ISMAEIL KASSEM ET AL, Depth Super-Resolution by Enhanced Shift and Add, GRID AND COOPERATIVE COMPUTING, THIRD INTERNATIONAL CONFERENCE ON, WUHAN, CHINA, OCTOBER 21 - 24, 2004. IN: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE , VOL. 3251; SPRINGER VERLAG, (20130827), ISSN 0302-9743, XP047038844 [A] 1-15 * page 101, paragraph 1 - page 102, paragraph 2 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-40246-3_13
 [A]  - QINGXIONG YANG ET AL, "Spatial-Depth Super Resolution for Range Images", 2007 IEEE CONFERENCE ON COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, (20070601), pages 1 - 8, XP055103282 [A] 1-15 * page 1, column r, paragraph 2; figure 1 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/CVPR.2007.383211
 [A]  - JAESIK PARK ET AL, "High quality depth map upsampling for 3D-TOF cameras", COMPUTER VISION (ICCV), 2011 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON, (20111106), pages 1623 - 1630, XP032101376 [A] 1-15 * abstract *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/ICCV.2011.6126423
 [A]  - DEEPU RAJAN ET AL, "SIMULTANEOUS ESTIMATION OF SUPER-RESOLVED SCENCE AND DEPTH MAP FROM LOW RESOLUTION DEFOCUSED OBSERVATIONS", IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE, IEEE COMPUTER SOCIETY, USA, (20030901), vol. 25, no. 9, pages 1102 - 1117, XP001185140 [A] 1-15 * page 1103, column r, paragraph 1 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/TPAMI.2003.1227986
 [A]  - TRAVIS A R L, "THE DISPLAY OF THREE-DIMENSIONAL VIDEO IMAGES", PROCEEDINGS OF THE IEEE, NEW YORK, US, (19971101), vol. 85, no. 11, pages 1817 - 1832, XP000755850 [A] 1-15 * the whole document *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/5.649659
Examen   - SCHUON S ET AL, "High-quality scanning using time-of-flight depth superresolution", COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, IEEE COMPUTER SOCIETY CONFERENCE ON, IEEE, PISCATAWAY, NJ, USA, (20080623), pages 1 - 7, XP031285727
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