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Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

2024-07-24

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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP4367557

EP4367557 - SYSTÈME DE MESURE DE POSITION, SYSTÈME DE POSITIONNEMENT, APPAREIL LITHOGRAPHIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISPOSITIF [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa requête en examen a été présentée
Statut actualisé le  12.04.2024
Base de données mise à jour au 19.10.2024
PrécédentLa publication internationale a été faite
Statut actualisé le  13.01.2023
Précédentinconnu
Statut actualisé le  05.08.2022
Dernier événement   Tooltip13.09.2024Changement : État(s) autorisant la validationpublié le 16.10.2024  [2024/42]
13.09.2024Changement - Etats autorisant l'extensionpublié le 16.10.2024  [2024/42]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
ASML Netherlands B.V.
P.O. Box 324
5500 AH Veldhoven / NL
[2024/20]
Inventeur(s)01 / VAN DE KERKHOF, Marcus, Adrianus
Veldhoven 5500 AH / NL
 [2024/20]
Mandataire(s)ASML Netherlands B.V.
Corporate Intellectual Property
P.O. Box 324
5500 AH Veldhoven / NL
[2024/20]
Numéro de la demande, date de dépôt22744418.930.06.2022
[2024/20]
WO2022EP68214
Numéro de priorité, dateEP2021018438207.07.2021         Format original publié: EP 21184382
[2024/20]
Langue de dépôtEN
Langue de la procédureEN
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche
N°:WO2023280692
Date:12.01.2023
Langue:EN
[2023/02]
Type: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP4367557
Date:15.05.2024
Langue:EN
La demande publiée par l'OMPI le 12.01.2023, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen.
[2024/20]
Rapport(s) de rechercheRapport de recherche internationale - publié le:EP12.01.2023
ClassificationIPC:G03F7/20
[2024/20]
CPC:
G03F7/70775 (EP); G03F7/70725 (EP)
Etats contractants désignésAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2024/20]
TitreAllemand:POSITIONSMESSSYSTEM, POSITIONIERUNGSSYSTEM, LITHOGRAFISCHE VORRICHTUNG UND VORRICHTUNGSHERSTELLUNGSVERFAHREN[2024/20]
Anglais:A POSITION MEASUREMENT SYSTEM, A POSITIONING SYSTEM, A LITHOGRAPHIC APPARATUS, AND A DEVICE MANUFACTURING METHOD[2024/20]
Français:SYSTÈME DE MESURE DE POSITION, SYSTÈME DE POSITIONNEMENT, APPAREIL LITHOGRAPHIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISPOSITIF[2024/20]
Entrée dans la phase régionale01.12.2023Taxe nationale de base payée 
01.12.2023Taxe(s) de désignation payée(s) 
01.12.2023Taxe d'examen payée 
Procédure dexamen01.12.2023Requête en examen déposée  [2024/20]
01.12.2023Date à laquelle la division d’examen est devenue compétente
03.09.2024Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}
Taxes payéesTaxe annuelle
31.03.2024Taxe annuelle Année du brevet 03
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Cité dansRecherche internationale[XY]US2013293962  (SCHNIER DIETMAR [DE]) [X] 1,2,6-13 * paragraph [0047] - paragraph [0073] * * figures 1-4,9,11 * [Y] 3-5;
 [YA]WO2017001124  (ASML NETHERLANDS BV [NL]) [Y] 3-5 * page 9, line 6 - page 12, line 16 * * figure 4 *[A] 1,13
par le demandeurUS6020964
 US6952253
 US2007058173
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