EP0297669 - Procédé pour mesurer un rayonnement optique réfléchi [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets] | Statut | Aucune opposition formée dans le délai Statut actualisé le 11.11.1995 Base de données mise à jour au 04.11.2024 | Dernier événement Tooltip | 11.11.1995 | Aucune opposition formée dans le délai | publié le 03.01.1996 [1996/01] | Demandeur(s) | Pour :DE
Philips Corporate Intellectual Property GmbH Habsburgerallee 11 52064 Aachen / DE | Pour :FR
GB
IT
SE
Koninklijke Philips Electronics N.V. Groenewoudseweg 1 5621 BA Eindhoven / NL | [N/P] |
Précédent [1989/01] | Pour :DE
Philips Patentverwaltung GmbH Röntgenstrasse 24 D-22335 Hamburg / DE | ||
Pour :FR
GB
IT
SE
Philips Electronics N.V. Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven / NL | Inventeur(s) | 01 /
Esser, Hildegard Birresbornerstrasse 55 D-5000 Köln 41 / DE | 02 /
Grzesik, Ulrich, Dr. Dipl.-Phys. August Kierspel-Strasse 161 D-5060 Bergisch Gladbach 2 / DE | [1989/01] | Mandataire(s) | Hartmann, Heinrich, et al Philips Corporate Intellectual Property GmbH, Habsburgerallee 11 52064 Aachen / DE | [N/P] |
Précédent [1995/14] | Hartmann, Heinrich, Dipl.-Ing., et al Philips Patentverwaltung GmbH, Röntgenstrasse 24 D-22335 Hamburg / DE | ||
Précédent [1989/01] | Koch, Ingo, Dr.-Ing. Philips Patentverwaltung GmbH, Wendenstrasse 35c D-20097 Hamburg / DE | Numéro de la demande, date de dépôt | 88201323.8 | 27.06.1988 | [1989/01] | Numéro de priorité, date | DE19873721823 | 02.07.1987 Format original publié: DE 3721823 | [1989/01] | Langue de dépôt | DE | Langue de la procédure | DE | Publication | Type: | A2 Demande sans rapport de recherche | N°: | EP0297669 | Date: | 04.01.1989 | Langue: | DE | [1989/01] | Type: | A3 Rapport de recherche | N°: | EP0297669 | Date: | 06.02.1991 | Langue: | DE | [1991/06] | Type: | B1 Fascicule de brevet | N°: | EP0297669 | Date: | 11.01.1995 | Langue: | DE | [1995/02] | Rapport(s) de recherche | Rapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le: | EP | 17.12.1990 | Classification | IPC: | G01N21/47, G01M11/00 | [1990/52] | CPC: |
G01M11/3145 (EP,US)
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Précédent IPC [1989/01] | G01N21/47 | Etats contractants désignés | DE, FR, GB, IT, SE [1989/01] | Titre | Allemand: | Verfahren zur Messung der von einer Reflexionsstelle reflektierten optischen Strahlung | [1989/01] | Anglais: | Method for measuring a reflected optical radiation | [1989/01] | Français: | Procédé pour mesurer un rayonnement optique réfléchi | [1989/01] | Procédure d'examen | 01.08.1991 | Requête en examen déposée [1991/39] | 11.03.1993 | Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04) | 28.04.1993 | Réponse à une notification de la division dexamen | 22.03.1994 | Envoi de la notification relative à l'intention de délivrer le brevet (Accord : Oui) | 30.06.1994 | Notification relative à l'intention de délivrer le brevet | 03.10.1994 | Taxe de délivrance payée | 03.10.1994 | Taxe publication/d‘impression payée | Opposition(s) | 12.10.1995 | Aucune opposition formée dans le délai imparti [1996/01] | Taxes payées | Taxe annuelle | 26.06.1990 | Taxe annuelle Année du brevet 03 | 27.06.1991 | Taxe annuelle Année du brevet 04 | 29.06.1992 | Taxe annuelle Année du brevet 05 | 28.06.1993 | Taxe annuelle Année du brevet 06 | 28.06.1994 | Taxe annuelle Année du brevet 07 |
Dérogation à la compétence Tooltip exclusive de la juridiction unifiée du brevet | Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation | ||
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni. | Citations: | Recherche | [A]EP0210341 (CSELT CENTRO STUDI LAB TELECOM [IT]) | [Y] - NACHRICHTENTECHNISCHE BERICHTE Heft 3, Dezember 1986, Seiten 61-72; W.E. FREYHARDT et al.: "Prinzipien und Anwendungsbeispiele der optischen Messtechnik" | [Y] - ELEKTRONIK Band 35, Nr. 21, Oktober 1986, Seiten 121,122,125-128; H.-P. SIEBERT: "Messungen und Prüfungen an LWL-Bauelementen" | [A] - J.E.E. JOURNAL OF ELECTRONIC ENGINEERING Band 23, Nr. 236, August 1986, Seiten 62-65, Tokyo, JP; K. KITAGAWA: "OTDR Makes Breakthrough In Accuracy and Dynamic Range" |