blank Aide rapide
blank Actualité maintenance

Dates prévues pour la maintenance

Interruptions régulières:
entre 5 h 00 et 5 h 15 HEC, du lundi au dimanche.

Autres interruptions
Accessibilité

2022.02.11

en savoir plus...
blank Flash info

Flash Info

Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

2024-07-24

en savoir plus...
blank Liens utiles

Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP0480780

EP0480780 - Dispositif optoélectronique et application à la réalisation d'un laser et d'un photodétecteur [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande est réputée retirée
Statut actualisé le  11.07.1994
Base de données mise à jour au 17.09.2024
Dernier événement   Tooltip11.07.1994Demande réputée retiréepublié le 31.08.1994 [1994/35]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
THOMSON-CSF
173, Boulevard Haussmann
75008 Paris / FR
[N/P]
Précédent [1994/07]Pour tous les Etats désignés
THOMSON-CSF
173, Boulevard Haussmann
F-75008 Paris / FR
Précédent [1992/16]Pour tous les Etats désignés
THOMSON-CSF
173, Boulevard Haussmann
F-75008 Paris / FR
Inventeur(s)01 / Razeghi, Manijeh
THOMSON-CSF SCPI Cédex 67
F-92045 Paris la Défense / FR
02 / Omnes, Franck
THOMSON-CSF SCPI Cédex 67
F-92045 Paris la Défense / FR
[1992/16]
Mandataire(s)Guérin, Michel, et al
Marks & Clerk France
Conseils en Propriété Industrielle
Immeuble Visium
22, Avenue Aristide Briand
94117 Arcueil Cedex / FR
[N/P]
Précédent [1992/16]Guérin, Michel, et al
THOMSON-CSF SCPI B.P. 329 50, rue Jean-Pierre Timbaud
F-92402 Courbevoie Cédex / FR
Numéro de la demande, date de dépôt91402304.923.08.1991
[1992/16]
Numéro de priorité, dateFR1990001087131.08.1990         Format original publié: FR 9010871
[1992/16]
Langue de dépôtFR
Langue de la procédureFR
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP0480780
Date:15.04.1992
Langue:FR
[1992/16]
Rapport(s) de rechercheRapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:EP31.01.1992
ClassificationIPC:H01L31/0352, H01L33/00, H01S3/19
[1992/16]
CPC:
H01S5/34313 (EP); B82Y20/00 (EP); H01L31/0352 (EP);
H01L31/035236 (EP)
Etats contractants désignésDE,   GB [1992/16]
TitreAllemand:Optoelektronische Vorrichtung und ihre Verwendung zur Herstellung eines Lasers und eines Fotodetektors[1992/16]
Anglais:Optoelectronic device and production of a laser and a photodetector using the same[1992/16]
Français:Dispositif optoélectronique et application à la réalisation d'un laser et d'un photodétecteur[1992/16]
Dossier détruit :20.04.2002
Procédure dexamen18.05.1992Requête en examen déposée  [1992/29]
01.03.1994La demande est réputée retirée, date d'effet juridique  [1994/35]
05.04.1994Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}  [1994/35]
Taxes payéesSurtaxe
Surtaxe concernant la taxe annuelle
31.08.199303   M06   Pas encore payé
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Citations:Recherche[XP]EP0426419
 [A]  - APPLIED PHYSICS LETTERS. vol. 56, no. 23, 4 Juin 1990, NEW YORK, US pages 2293 - 2294; N.K. DUTTA ET AL.: 'Linewidth enhancement factor in strained quantum well lasers'
 [A]  - APPLIED PHYSICS LETTERS. vol. 53, no. 1, 4 Juillet 1988, NEW YORK, US pages 1 - 3; M. KITIMURA ET AL.: 'High-power operation in InGaAs separate confinement heterostructure quantum well laser diodes'
 [A]  - APPLIED PHYSICS LETTERS. vol. 47, no. 7, Octobre 1985, NEW YORK, US pages 733 - 735; G.E. BULMAN ET AL.: 'Photocurrent multiplication in ion implanted lateral In0.2Ga0.8As/GaAs strained-layer superlattice photodetectors'
 [A]  - IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS vol. 1, no. 11, Novembre 1989, NEW YORK, US pages 376 - 378; F.S. CHOA ET AL.: 'Optoelectronic properties of InGaAs/InGaAsP multiple-quantum-well waveguide detectors'
L'OEB décline toute responsabilité quant à l’exactitude des données émanant d'administrations tierces. Il ne garantit notamment pas l'exhaustivité, l'actualité ou la pertinence à des fins spécifiques de ces données.