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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP0599779

EP0599779 - Photoréserve négative à haute résolution ayant une latitude de traitement étendue [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande a été rejetée
Statut actualisé le  01.02.2002
Base de données mise à jour au 04.11.2024
Dernier événement   Tooltip01.02.2002Rejet de la demandepublié le 20.03.2002  [2002/12]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Olin Microelectronic Materials AG
c/o KPMG Fides Peat. Innere Margarethenstrasse 5
4002 Basel / CH
[1998/36]
Précédent [1994/22]Pour tous les Etats désignés
OCG Microelectronic Materials AG
Klybeckstrasse 141
CH-4002 Basel / CH
Inventeur(s)01 / Münzel, Norbert, Dr.
Im Clausenfeld 3
D-79423 Heitersheim / DE
02 / Schulz, Reinhard, Dr.
Am Pfarrgarten 5a
D-79219 Staufen-Wettelbrunn / DE
03 / Holzwarth, Heinz
St. Blasierweg 2
D-79189 Bad Krozingen / DE
[1994/22]
Mandataire(s)Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch
Patentanwälte
Destouchesstrasse 68
80796 München / DE
[N/P]
Précédent [1998/10]Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch
Winzererstrasse 106
80797 München / DE
Précédent [1996/18](deleted)
Précédent [1994/22]Roueche, Armand, et al
c/o CIBA-GEIGY AG, Patentabteilung, Postfach
CH-4002 Basel / CH
Numéro de la demande, date de dépôt93810737.220.10.1993
[1994/22]
Numéro de priorité, dateCH1992000336929.10.1992         Format original publié: CH 336992
[1994/22]
Langue de dépôtDE
Langue de la procédureDE
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP0599779
Date:01.06.1994
Langue:DE
[1994/22]
Rapport(s) de rechercheRapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:EP07.04.1994
ClassificationIPC:G03F7/004
[1994/22]
CPC:
G03F7/038 (EP,US); G03F7/00 (KR); G03F7/0045 (EP,US);
G03F7/0382 (EP,US); Y10S430/106 (EP,US); Y10S430/122 (EP,US)
Etats contractants désignésBE,   CH,   DE,   FR,   GB,   IT,   LI,   NL [1994/22]
TitreAllemand:Hochauflösender negativ arbeitender Photoresist mit grossem Prozessspielraum[1994/22]
Anglais:High-resolution negative photoresist having extended processing latitude[1994/22]
Français:Photoréserve négative à haute résolution ayant une latitude de traitement étendue[1994/22]
Procédure dexamen01.10.1994Requête en examen déposée  [1994/48]
23.12.1997Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
14.08.1998Réponse à une notification de la division dexamen
22.03.1999Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
19.07.1999Réponse à une notification de la division dexamen
27.12.1999Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M09)
29.09.2000Réponse à une notification de la division dexamen
23.04.2001Envoi de la notification relative à l'intention de délivrer le brevet (Accord : )
12.10.2001Envoi de la notification signalant le rejet de la demande, motif: examen quant à la forme [2002/12]
22.10.2001Demande rejetée, date d'effet juridique [2002/12]
Requête en poursuite de la procédure de:14.08.1998Requête en poursuite de la procédure déposée
14.08.1998Taxe intégralement payée (date de paiement)
Requête accordée
27.08.1998Décision envoyée
Taxes payéesTaxe annuelle
02.09.1995Taxe annuelle Année du brevet 03
20.11.1996Taxe annuelle Année du brevet 04
07.10.1997Taxe annuelle Année du brevet 05
22.10.1998Taxe annuelle Année du brevet 06
04.10.1999Taxe annuelle Année du brevet 07
04.10.2000Taxe annuelle Année du brevet 08
Surtaxe
Surtaxe concernant la taxe annuelle
31.10.199604   M06   Taxe payée le   20.11.1996
31.10.200109   M06   Pas encore payé
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
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La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Citations:Recherche[A]EP0050802  (HOECHST AG [DE]);
 [X]EP0295465  (HOECHST AG [DE]);
 [A]EP0435437  (NIPPON ZEON CO [JP]);
 JPH03158854  [ ] (TOKYO OHKA KOGYO CO LTD);
 JPH03200254  [ ] (NIPPON ZEON CO);
 JPH0412357  [ ] (TORAY INDUSTRIES);
 JPH04251849  [ ] (FUJI PHOTO FILM CO LTD);
 JPH04274242  [ ] (JAPAN SYNTHETIC RUBBER CO LTD);
 JPH04301851  [ ] (NIPPON ZEON CO);
 [PX]EP0530148  (CIBA GEIGY AG [CH], et al)
ExamenEP0542572
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