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Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP0770201

EP0770201 - PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LA PROFONDEUR D'UNE MICROSTRUCTURE [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutAucune opposition formée dans le délai
Statut actualisé le  03.12.1999
Base de données mise à jour au 19.10.2024
Dernier événement   Tooltip06.08.2004Extinction du brevet dans un Etat contractant
Nouvel/nouveaux État(s): LU
publié le 22.09.2004  [2004/39]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Leonhard Kurz GmbH & Co.
Schwabacher Strasse 482
90763 Fürth / DE
[N/P]
Précédent [1997/18]Pour tous les Etats désignés
LEONHARD KURZ GMBH & CO.
Schwabacher Strasse 482
90763 Fürth / DE
Inventeur(s)01 / WILD, Heinrich
Geranienweg 8
D-90768 Fürth / DE
[1997/18]
Mandataire(s)Louis Pöhlau Lohrentz
Patentanwälte
Postfach 30 55
90014 Nürnberg / DE
[N/P]
Précédent [1997/18]LOUIS, PÖHLAU, LOHRENTZ & SEGETH
Postfach 3055
90014 Nürnberg / DE
Numéro de la demande, date de dépôt95921698.710.06.1995
[1997/18]
WO1995DE00783
Numéro de priorité, dateDE1994442456513.07.1994         Format original publié: DE 4424565
[1997/18]
Langue de dépôtDE
Langue de la procédureDE
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche
N°:WO9602807
Date:01.02.1996
Langue:DE
[1996/06]
Type: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP0770201
Date:02.05.1997
Langue:DE
La demande publiée par l'OMPI le 01.02.1996, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen.
[1997/18]
Type: B1 Fascicule de brevet 
N°:EP0770201
Date:03.02.1999
Langue:DE
[1999/05]
Rapport(s) de rechercheRapport de recherche internationale - publié le:EP01.02.1996
ClassificationIPC:G01B11/22
[1997/18]
CPC:
G01B11/22 (EP)
Etats contractants désignésAT,   BE,   CH,   DE,   DK,   ES,   FR,   GB,   IT,   LI,   LU,   NL,   PT,   SE [1997/18]
TitreAllemand:VERFAHREN ZUR MESSUNG DER TIEFE EINER MIKROSTRUKTUR[1997/18]
Anglais:PROCESS FOR MEASURING THE DEPTH OF A MICROSTRUCTURE[1997/18]
Français:PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LA PROFONDEUR D'UNE MICROSTRUCTURE[1997/18]
Entrée dans la phase régionale21.01.1997Taxe nationale de base payée 
21.01.1997Taxe(s) de désignation payée(s) 
21.01.1997Taxe d'examen payée 
Procédure d'examen27.10.1995Requête en examen préliminaire déposée
Administration chargée de l'examen préliminaire international: EP
21.01.1997Requête en examen déposée  [1997/18]
19.02.1997Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription)
07.05.1998Envoi de la notification relative à l'intention de délivrer le brevet (Accord : Oui)
06.08.1998Notification relative à l'intention de délivrer le brevet
15.10.1998Taxe de délivrance payée
15.10.1998Taxe publication/d‘impression payée
Opposition(s)04.11.1999Aucune opposition formée dans le délai imparti [2000/03]
Taxes payéesTaxe annuelle
11.06.1997Taxe annuelle Année du brevet 03
08.06.1998Taxe annuelle Année du brevet 04
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Extinctions durant la phase d’opposition  TooltipDK03.05.1999
PT03.05.1999
LU10.06.1999
[2004/39]
Précédent [2003/45]DK03.05.1999
PT03.05.1999
Précédent [2000/23]PT03.05.1999
Cité dansRecherche internationale[A]US4988198  (KONDO NORIYUKI [JP]) [A] 1-5 * column 6, line 68 - column 8, line 4 *;
 [YA]US5023188  (TANAKA HIROSHI [JP]) [Y] 1,2,7 * column 2, line 10 - line 17 * * column 4, line 31 - column 6, line 35 * [A] 4;
 [Y]EP0468897  (FRANCE TELECOM [FR]) [Y] 1,2,7 * the whole document *;
 [A]EP0585839  (TEXAS INSTRUMENTS INC [US]) [A] 1,7* page 3, line 28 - line 57 *
 [A]  - L.V. BELYAKOV E.A., "CONTROL OF THE PHOTOCHEMICAL ETCHING OP A SEMICONDUCTOR IN HOLOGRAM RECORDING", SOV.PHYS.-TECH.PHYS., USA, vol. 24, no. 4, pages 511 - 512 [A] 1 * the whole document *
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