EP0770201 - PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LA PROFONDEUR D'UNE MICROSTRUCTURE [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets] | Statut | Aucune opposition formée dans le délai Statut actualisé le 03.12.1999 Base de données mise à jour au 19.10.2024 | Dernier événement Tooltip | 06.08.2004 | Extinction du brevet dans un Etat contractant Nouvel/nouveaux État(s): LU | publié le 22.09.2004 [2004/39] | Demandeur(s) | Pour tous les Etats désignés Leonhard Kurz GmbH & Co. Schwabacher Strasse 482 90763 Fürth / DE | [N/P] |
Précédent [1997/18] | Pour tous les Etats désignés LEONHARD KURZ GMBH & CO. Schwabacher Strasse 482 90763 Fürth / DE | Inventeur(s) | 01 /
WILD, Heinrich Geranienweg 8 D-90768 Fürth / DE | [1997/18] | Mandataire(s) | Louis Pöhlau Lohrentz Patentanwälte Postfach 30 55 90014 Nürnberg / DE | [N/P] |
Précédent [1997/18] | LOUIS, PÖHLAU, LOHRENTZ & SEGETH Postfach 3055 90014 Nürnberg / DE | Numéro de la demande, date de dépôt | 95921698.7 | 10.06.1995 | [1997/18] | WO1995DE00783 | Numéro de priorité, date | DE19944424565 | 13.07.1994 Format original publié: DE 4424565 | [1997/18] | Langue de dépôt | DE | Langue de la procédure | DE | Publication | Type: | A1 Demande avec rapport de recherche | N°: | WO9602807 | Date: | 01.02.1996 | Langue: | DE | [1996/06] | Type: | A1 Demande avec rapport de recherche | N°: | EP0770201 | Date: | 02.05.1997 | Langue: | DE | La demande publiée par l'OMPI le 01.02.1996, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen. | [1997/18] | Type: | B1 Fascicule de brevet | N°: | EP0770201 | Date: | 03.02.1999 | Langue: | DE | [1999/05] | Rapport(s) de recherche | Rapport de recherche internationale - publié le: | EP | 01.02.1996 | Classification | IPC: | G01B11/22 | [1997/18] | CPC: |
G01B11/22 (EP)
| Etats contractants désignés | AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, IT, LI, LU, NL, PT, SE [1997/18] | Titre | Allemand: | VERFAHREN ZUR MESSUNG DER TIEFE EINER MIKROSTRUKTUR | [1997/18] | Anglais: | PROCESS FOR MEASURING THE DEPTH OF A MICROSTRUCTURE | [1997/18] | Français: | PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LA PROFONDEUR D'UNE MICROSTRUCTURE | [1997/18] | Entrée dans la phase régionale | 21.01.1997 | Taxe nationale de base payée | 21.01.1997 | Taxe(s) de désignation payée(s) | 21.01.1997 | Taxe d'examen payée | Procédure d'examen | 27.10.1995 | Requête en examen préliminaire déposée Administration chargée de l'examen préliminaire international: EP | 21.01.1997 | Requête en examen déposée [1997/18] | 19.02.1997 | Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription) | 07.05.1998 | Envoi de la notification relative à l'intention de délivrer le brevet (Accord : Oui) | 06.08.1998 | Notification relative à l'intention de délivrer le brevet | 15.10.1998 | Taxe de délivrance payée | 15.10.1998 | Taxe publication/d‘impression payée | Opposition(s) | 04.11.1999 | Aucune opposition formée dans le délai imparti [2000/03] | Taxes payées | Taxe annuelle | 11.06.1997 | Taxe annuelle Année du brevet 03 | 08.06.1998 | Taxe annuelle Année du brevet 04 |
Dérogation à la compétence Tooltip exclusive de la juridiction unifiée du brevet | Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation | ||
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni. | Extinctions durant la phase d’opposition Tooltip | DK | 03.05.1999 | PT | 03.05.1999 | LU | 10.06.1999 | [2004/39] |
Précédent [2003/45] | DK | 03.05.1999 | |
PT | 03.05.1999 | ||
Précédent [2000/23] | PT | 03.05.1999 | Cité dans | Recherche internationale | [A]US4988198 (KONDO NORIYUKI [JP]) [A] 1-5 * column 6, line 68 - column 8, line 4 *; | [YA]US5023188 (TANAKA HIROSHI [JP]) [Y] 1,2,7 * column 2, line 10 - line 17 * * column 4, line 31 - column 6, line 35 * [A] 4; | [Y]EP0468897 (FRANCE TELECOM [FR]) [Y] 1,2,7 * the whole document *; | [A]EP0585839 (TEXAS INSTRUMENTS INC [US]) [A] 1,7* page 3, line 28 - line 57 * | [A] - L.V. BELYAKOV E.A., "CONTROL OF THE PHOTOCHEMICAL ETCHING OP A SEMICONDUCTOR IN HOLOGRAM RECORDING", SOV.PHYS.-TECH.PHYS., USA, vol. 24, no. 4, pages 511 - 512 [A] 1 * the whole document * |