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Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP1099014

EP1099014 - DISPOSITIF ET PROCEDE POUR LA PRODUCTION D'AU MOINS UN MONOCRISTAL DE SiC [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutAucune opposition formée dans le délai
Statut actualisé le  31.01.2003
Base de données mise à jour au 26.07.2024
Dernier événement   Tooltip31.01.2003Aucune opposition formée dans le délaipublié le 19.03.2003  [2003/12]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
Werner-von-Siemens-Str. 1
DE-80333 München / DE
[N/P]
Précédent [2001/20]Pour tous les Etats désignés
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
Wittelsbacherplatz 2
80333 München / DE
Inventeur(s)01 / STEIN, Rene
Waldstrasse 7a
D-91341 Röttenbach / DE
02 / VÖLKL, Johannes
Hoferstrasse 4
D-91056 Erlangen / DE
03 / KUHN, Harald
Forchheimerstrasse 5
D-91056 Erlangen / DE
04 / RUPP, Roland
Am Wasserturm 35
D-91207 Lauf / DE
 [2001/20]
Numéro de la demande, date de dépôt99942775.005.07.1999
[2001/20]
WO1999DE02066
Numéro de priorité, dateDE199813155614.07.1998         Format original publié: DE 19831556
[2001/20]
Langue de dépôtDE
Langue de la procédureDE
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche
N°:WO0004212
Date:27.01.2000
Langue:DE
[2000/04]
Type: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP1099014
Date:16.05.2001
Langue:DE
La demande publiée par l'OMPI le 27.01.2000, dans une des langues officielles de l'OEB, remplace la publication de la demande de brevet européen.
[2001/20]
Type: B1 Fascicule de brevet 
N°:EP1099014
Date:27.03.2002
Langue:DE
[2002/13]
Rapport(s) de rechercheRapport de recherche internationale - publié le:EP27.01.2000
ClassificationIPC:C30B23/00, C30B29/36
[2001/20]
CPC:
C30B23/00 (EP,US); C30B29/36 (EP,US); Y10T117/10 (EP,US);
Y10T117/1092 (EP,US)
Etats contractants désignésCH,   DE,   FR,   IT,   LI,   SE [2002/13]
Précédent [2001/20]AT,  BE,  CH,  CY,  DE,  DK,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  IE,  IT,  LI,  LU,  MC,  NL,  PT,  SE 
TitreAllemand:VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG MINDESTENS EINES SiC-EINKRISTALLS[2001/20]
Anglais:METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING AT LEAST ONE SILICON CARBIDE MONOCRYSTAL[2001/20]
Français:DISPOSITIF ET PROCEDE POUR LA PRODUCTION D'AU MOINS UN MONOCRISTAL DE SiC[2001/20]
Entrée dans la phase régionale23.11.2000Taxe nationale de base payée 
23.11.2000Taxe(s) de désignation payée(s) 
23.11.2000Taxe d'examen payée 
Procédure d'examen13.12.1999Requête en examen préliminaire déposée
Administration chargée de l'examen préliminaire international: EP
24.11.2000Requête en examen déposée  [2001/20]
16.07.2001Envoi de la notification relative à l'intention de délivrer le brevet (Accord : Oui)
26.09.2001Notification relative à l'intention de délivrer le brevet
17.12.2001Taxe de délivrance payée
17.12.2001Taxe publication/d‘impression payée
Opposition(s)30.12.2002Aucune opposition formée dans le délai imparti [2003/12]
Taxes payéesTaxe annuelle
20.07.2001Taxe annuelle Année du brevet 03
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Cité dansRecherche internationale[A]DE4310745  (SIEMENS AG [DE]);
 [AD]WO9423096  (SIEMENS AG [DE], et al) [AD] 1,13 * the whole document *;
 [AD]US5667587  (GLASS ROBERT C [US], et al);
 [A]US5683507  (BARRETT DONOVAN L [US], et al)
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