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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP3264745

EP3264745 - SCANNING IMAGING SYSTEM WITH A NOVEL IMAGING SENSOR WITH GAPS FOR ELECTRONIC CIRCUITRY [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  03.07.2020
Database last updated on 24.04.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  14.06.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  06.02.2019
FormerExamination is in progress
Status updated on  10.08.2018
FormerRequest for examination was made
Status updated on  06.07.2018
FormerThe application has been published
Status updated on  01.12.2017
Most recent event   Tooltip08.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 10.08.2022  [2022/32]
Applicant(s)For all designated states
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 52
5656 AG Eindhoven / NL
[2020/12]
Former [2018/01]For all designated states
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
Inventor(s)01 / HULSKEN, Bas
c/o Philips International B.V. - Intellectual
Property & Standards High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
 [2018/01]
Representative(s)Philips Intellectual Property & Standards
High Tech Campus 52
5656 AG Eindhoven / NL
[N/P]
Former [2018/01]Recoules, Hector, et al
Philips Intellectual Property & Standards
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
Application number, filing date17181271.215.12.2014
[2018/01]
Priority number, dateEP2013019741616.12.2013         Original published format: EP 13197416
[2018/01]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP3264745
Date:03.01.2018
Language:EN
[2018/01]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP3264745
Date:17.07.2019
Language:EN
[2019/29]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP12.09.2017
ClassificationIPC:H04N5/335, H04N5/369, H04N5/374, G02B21/00, G02B21/36
[2018/01]
CPC:
H04N25/768 (EP,US); G02B21/002 (US); G02B21/365 (US);
H04N25/70 (EP,US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2018/32]
Former [2018/01]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:BILDGEBENDES SYSTEM MIT NEUARTIGEM BILDSENSOR MIT LÜCKEN FÜR ELEKTRONISCHE SCHALTKREISE[2018/01]
English:SCANNING IMAGING SYSTEM WITH A NOVEL IMAGING SENSOR WITH GAPS FOR ELECTRONIC CIRCUITRY[2018/01]
French:SYSTÈME D'IMAGERIE COMPRENANT UN NOUVEAU CAPTEUR D'IMAGE AVEC NICHES POUR CIRCUITS ÉLECTRONIQUES[2018/01]
Examination procedure13.07.2017Date on which the examining division has become responsible
12.06.2018Amendment by applicant (claims and/or description)
03.07.2018Examination requested  [2018/32]
08.08.2018Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M02)
05.10.2018Reply to a communication from the examining division
07.02.2019Communication of intention to grant the patent
Parent application(s)   TooltipEP14811918.3  / EP3085075
Opposition(s)03.06.2020No opposition filed within time limit [2020/32]
Fees paidRenewal fee
13.11.2017Renewal fee patent year 03
02.01.2018Renewal fee patent year 04
02.01.2019Renewal fee patent year 05
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU15.12.2014
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[2022/32]
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by applicantWO0184209
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